Методы измерения сверхвысокочастотной диэлектрической и магнитной проницаемости материалов

  • Станислав Юрьевич Бобровский
  • Андрей Николаевич Лагарьков
  • Константин Николаевич Розанов
DOI: https://doi.org/10.24160/0013-5380-2020-11-4-16
Ключевые слова: диэлектрическая и магнитная проницаемость, сверхвысокая часто­та, методы измерения

Аннотация

В статье рассматриваются методы измерения сверхвысокочастотной диэлектрической и маг­нитной проницаемости материалов. Показаны особенности и условия применимости методов из­мерения в линиях передачи и свободном пространстве, проанализированы погрешности измерений и калибровочные процедуры, применяемые для уменьшения погрешности. Отдельные разделы статьи посвящены описанию скалярных, резонаторных, квазистатических и квазиоптических методав. Установлено, что из множества существующих наиболее распространены метод Николсона-Рос- са-Уира в коаксиальной линии или в свободном пространстве, а также метод измерения магнит­ной проницаемости тонких ферромагнитных плёнок, использующий закороченную полосковую ячейку. Эти методы позволяют решать большинство задач, связанных с исследованием сверхвысо­кочастотных свойств материалов.

Биографии авторов

Станислав Юрьевич Бобровский

младший научный сотрудник Института теорети­ческой и прикладной электродинамики (ИТПЭ) РАН.

Андрей Николаевич Лагарьков

доктор физ.-мат. наук, академик РАН, научный руководи­тель ИТПЭ РАН, диссертацию защитил в 1977 г.

Константин Николаевич Розанов

доктор физ. -мат. наук, врио директора ИТПЭ РАН, диссер­тацию защитил в 2018 г.

Литература

1. Afsar M.N., Birch J.R., Clarke R.N. Proc. IEEE, 1986, vol. 74, 183 p.
2. BakerJarvis J., Janezic M.D., Riddle B.F. NIST Tech. Note 1536. Boulder, USA, 2004, 157 p.
3. BakerJarvis J., Janezic M.D., Grosvenor J.H., Geyer R.G. NIST Tech. Note 1355 R. Boulder, USA, 1993, 118 p.
4. BakerJarvis J., Janezic M.D., Riddle B., et al. NIST Tech. Note 1520. Boulder, USA, 2001,157 p.
5. Fenner R.A., Rothwell E.J., Frasch L.L. Radio Sci., 2012, vol. 47, RS1004 p.
6. Francsechetti G.G. Alta Freq, 1967, vol. 36, 757 p.
7. Misra D.K. In: Measurement, Instrumentation, and Sensors Handbook, CRC Press. — IEEE Press, 2000, Ch. 46, pp. 461–46 12.
8. Musil J., Zasek F. Microwave Measurements of Complex Permittivity by Free
Space Methods and Their Application. NY: Elseiver, 1986, 276 p.
9. Brekhovskikh L.М. Volny v sloistykh sredakh, 2d izd. М.: Nauka, 1973, 343 p.
10. Roberts S., von Hippel A.J. Appl. Phys., 1948, vol. 17, 610 p.
11. Nicolson A.M., Ross G.F. IEEE Trans. Instr. Meas, 1970, vol. 19, 377 p.
12. Weir W.R. Proc. IEEE, 1974, vol. 62, 33 p.
13. Lefranqois S., Pasquet D., MazeMerceur G. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1996, vol. 44, No. 9, 1557 p.
14. Wilson S.B. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1988, vol. 36, 752 p.
15. Champlin K.S., Glover G.H. J. Appl. Phys., 1966, vol. 37, 2355 p.
16. Guldbrandsen B. Proc. IEEE, 1986, vol. 74, 68 p.
17. Mason S.J. Proc. IRE, 1953, vol. 41, 1144 p.
18. Williams J. Microw. J., 1991, No. 3, 74 p.
19. Engen G.F., Hoer C.A. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1979, vol. 27, 987 p.
20. Liu L., Matitsine S.M., Gan Y.B., Rozanov K.N. J. Appl. Phys., 2005, vol. 98, Art. No. 063512.
21. Guba V.G., Ladur A.A., Savin A.A. Doklady TUSUR, 2011, No. 2 (24), ch. 1, 149 p.
22. Kruppa W., Sodomsky K.F. IEEE Trans. Microw. Theory Tech., 1971, vol. 19, No. 1, 122 p.
23. Rumiantsev A., Ridler N. IEEE Microw. J. June 2008, 86 p.
24. Heuermann H., Schiek B. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1997, vol. 45, 408 p.
25. Randa J., Wiatr W., Billinger R.L. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1999, vol. 47, 2613 p.
26. WiatrW. Proc.MIKON1998.Krakow,Poland,1998,vol.2,363p.
27. Wiedmann F., Huyart B., Bergeault E., Jallet L.IEEE Trans. Instrum. Meas., 1999, vol. 48, No. 5, 927 p.
28. Zhu N.H., Qian C., Wang Y.L., et al. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 2003, vol. 51, 2000 p.
29. Agilent Network Analysis Applying the 8510 TRL Calibration for Non
Coaxial Measurements. Product Note 8510
8A, Agilent Technologies, 2001, 24 p.
30. Pan C. IEEE Trans. Signal Process, 2001, vol. 49, No. 2, 444p.
31. Rim K.S., Yun, B.I. Adv. Computat. Math., 2013, vol. 38, 683 p.
32. Agilent 85071E Material Measurement Software. Electron Resource] http://cp.literature.agilent.com/ litweb/pdf/5988
9472EN.pdf (Date of appeal 03.09.2020).
33. Borah S., Bhattacharyya N.S. PIER M, 2010, vol. 13, 53 p.
34. Hunton J.K., Pappas N.L. Hewlett Packard J., 1954, vol. 6, 1 p.
35. Starostenko S.N., Vinogradov A.P. IEEE Trans. Instrum. Meas., 2002, vol. 51, 125 p.
36. Zhang J., Koledintseva M.Y., Pommerenke D.J., et al. Proc. 2006 IMTC. Sorrento, Italy, 2006, 462 p.
37. Milton G.W., Eyre D.J., Mantese J.V. Phys. Rev. Lett., 1997, vol. 79, 3062 p.
38. Kuzmenko A.B., van der Marel D., Carbone F., Marsiglio F. New J. Phys., 2007, vol. 9, 229 p.
39. Deng Y., Zhao L., Shen B., et al.J. Appl. Phys., 2006, vol. 100, Art. No. 014304.
40. Li J.G., Huang J.J., Qin Y., Ma F.Mat. Sci. Eng. B., 2007, vol. 138, 199 p.
41. Krupka J.J. Eur. Ceramic Soc., 2003, vol. 23, 2607 p.
42. Krupka J., Gregory A.P., Rochard O.C., et al. J. Eur. Ceramic Soc., 2001, vol. 21, 2673 p.
43. Starostenko S.N., Rozanov K.N. J. Magn. Magn. Mater., 2009, vol. 321, 3049 p.
44. Alanen E., Lahtinen T., Nuutinen J. Phys. Med. Biol., 1999, vol. 44, 169 p.
45. Langhe P.D., Blomme K., Martens L., Zutter D. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1993, vol. 42, 879 p.
46. Wu M., Yao X., Zhang L.Meas. Sci. Technol., 2000, vol. 11, 1617 p.
47. Xu Y., Bosisio R.G. J. Electromagn. Waves Appl., 1992, vol. 16, 1247 p.
48. BelhadjTahar N., FourrierLamer A., de Chanterac H. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1990, vol. 38, 1 p.
49. Kent G. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1996, vol. 45, 102 p.
50. Kent G. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1988, vol. 36, 1451 p.
51. BelhadjTakar N.E., FourierLamer A. J. Electromagn. Waves Appl., 1992, vol. 16, 1225 p.
52. Bottreau A.M., Merzouki A. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1993, vol. 42, 899 p.
53. Janezic M.D., BakerJarvis J. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1999, vol. 47, 2014 p.
54. Kobayashi Y., Sato J. CPEM’88: 1988 Conf. Precision Electromagn. Meas., Tsukuba, Japan, 1988, Digest., 143 p.
55. Kent G., Bell S.M. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1996, vol. 45, 98 p.
56. Matytsin S.M., Rozanov K.N., Simonov N.A. IEEE, 1996, vol. 2, pp. 987–990.
57. Yamaguchi M., Yabukami S., Arai K.I. IEEE Trans. Magn., 1997, vol. 33, 4044 p.
58. Liu Y., Chen L.F., Tan C.Y., et. al. Rev. Sci. Instr., 2005, vol. 76, Art. No. 063911.
59. Dzhurinskiy K. Elektronnyye komponenty, 2004, No. 9, p. 39.
60. Beguhn S., Zhou Z., Rand S., et al. J. Appl. Phys., 2012, vol. 111, Art. No. 07A503.
61. Takezawa M., Kikuchi H., Ishiyama K., et al. IEEE Trans. Magn., 1997, vol. 33, 3400 p.
62. Vincent D., Rouiller T., Simovsky C., et al. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 2005, vol. 53, 1174 p.
63. Wiener O. Abh. Math. – Physichen Klasse Konigl. Sacsh. Gesel. Wissen., 1912, vol. 32, 509 p.
64. Bekker V., Seemann K., Leiste H. J. Magn. Magn. Mater., 2004, vol. 270, 327 p.
65. Hettstedt F., Schurmann U., Knochel R., Quandt E. Proc. 38th Eur. Microw. Conf. Amsterdam, 2008, 797 p.
66. Moraitakis E., Kompotiatis L., Pissas M., Niarchos D. J. Magn. Magn. Mater., 2000, vol. 222, 168 p.
67. Pain D., Ledieu M., Acher O., et al. J. Appl. Phys., 1999, vol. 85, 5151 p.
68. Shimada Y., Numazawa J., Yoneda Y., Hosono A.IEEE Trans. J. Magn. Japan., 1991, vol. 6, 987 p.
69. Yamaguchi M., Miyazawa Y., Kaminishi K., Arai K.I. Trans. Magn. Soc. Japan., 2003, vol. 3, 137 p.
70. Yamaguchi M., Miyazawa Y., Kaminishi K., et al. J. Magn. Magn. Mater., 2004, vol, 268, 170 p.
71. Djerfaf F., Vincent D., Robert S., Merzouki A. Eur. Phys. J. Appl. Phys., 2011, vol. 56. Art. No. 30601.
72. Wu Y.Q., Tang Z.X., Xu Y.H., et al. IEEE Trans. Magn., 2010, vol. 46, 886 p.
73. Chai G.Z., Yang Y.C., Zhu J.G., et al. Appl. Phys. Lett., 2010, vol. 96, Art. No. 012505.
74. Wang P.S., Zhang H.Q., Divan R., Hoffmann A. IEEE Trans. Magn., 2009, vol. 45, 71 p.
75. Sebastian T., Clavijo S.A., Diaz R.E. J. Appl. Phys., 2013, vol. 113, Art. No. 033906.
76. Yousefi L., Attia H., Ramahi O.M. PIER, 2009, vol. 90, 1 p.
77. Heuermann H., Schiek B. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1997, vol. 45, 408 p.
78. Starostenko S.N., Rozanov K.N. Radiotekhnika i elektronika, 2013, vol. 58, No. 11, 1113 p.
79. Queffelec P., Le Floc’h M., Gelin P. IEEE Trans. Instr. Meas., 1998, vol. 47, 956 p.
80. Ding Y., Klemmer T.J., Crawford T.M. J. Appl. Phys., 2004, vol. 96, 2969 p.
81. Fessant A., Gerialtovski J., Loaec J., et al. J. Magn. Magn. Mater., 1994, vol. 133, 413 p.
82. Fessant A., Gieraltowski J., Loaec J., et al. IEEE Trans. Magn., 1993, vol. 29, 82 p.
83. Pain D., Ledieu M., Acher O., et al. J. Appl. Phys., 1999, vol. 85, 5151 p.
84. Yoshida S., Ono H., Ando S., et al. IEEE Trans Magn., 2001, vol. 37, 2401 p.
85. Acher O., Jacquart P.M., Fontaine J.M., et al. IEEE Trans. Magn., 1994, vol. 30, 4533 p.
86. Acher O., Le Gourrierec P., Perrin G., et al. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1996, vol. 44, 674 p.
87. Lagarkov A.N., Kashurkin O. Yu., Maklakov S.А., et al. Radiotekhnika i elektronika, 2012, No. 4, 441 p.
88. Iakubov I.T., Lagarkov A.N., Maklakov S.А., et al. J. Magn. Magn. Mater., 2009, vol. 321, 726 p.
89. Liu Z.W., Liu Y., Yan L., et al. J. Appl. Phys., 2006, vol. 99, Art. No. 043903.
90. Zhang L., Zhu Z.W., Kuang R.X., et al. J. Inorganic Mater., 2010, vol. 25, 1150 p.
91. Afsar M.N., Birch J.R., Clarke R.N. Proc. IEEE, 1986,. vol 74, 183 p.
92. Ghodgaonkar D.K., Varadan V.V., Varadan V.K. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1989, vol. 37, 789 p.
93. Liu L., Matitsine S.M., Gan Y.B., Rozanov K.N. J. Appl. Phys., 2005, vol. 98, Art. No. 063512.
94. Lagarkov A.N., Matytsin S.M., Rozanov K.N., Sarychev A.K. J. Appl. Phys., 1998, vol. 84, 3806 p.
95. Hock K.M. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 2006, vol. 54, 648 p.
96. Li J.G., Huang J.J., Qin Y., Ma F. Mat. Sci. Eng. B, 2007, vol. 138, 199 p.
97. Makhnovskiy D.P., Panina L.V., Garcia C., et al. Phys. Rev. B, 2006, vol. 74, Art. No. 064205.
98. Hollinger R.D., Jose K.A., Tellakula A., et al. Microw. Opt. Technol. Lett., 2000, vol. 26, 100 p.
99. Korolev K.A., Chen S., Afsar M.N. IEEE Trans. Magn., 2008, vol. 44, 435 p.
100. Lagarkov A.N., Semenenko V.N., Chistyaev V.A., Iakubov I.T. J. Magn. Magn. Mater., 2012, vol. 324, 3402 p.
101. Zivkovic I., Murk A. J. Appl. Phys., 2012, vol. 111, Art. No. 114104.
#
1. Afsar M.N., Birch J.R., Clarke R.N. Proc. IEEE, 1986, vol. 74, 183 p.
2. BakerJarvis J., Janezic M.D., Riddle B.F. NIST Tech. Note 1536. Boulder, USA, 2004, 157 p.
3. BakerJarvis J., Janezic M.D., Grosvenor J.H., Geyer R.G. NIST Tech. Note 1355 R. Boulder, USA, 1993, 118 p.
4. BakerJarvis J., Janezic M.D., Riddle B., et al. NIST Tech. Note 1520. Boulder, USA, 2001,157 p.
5. Fenner R.A., Rothwell E.J., Frasch L.L. Radio Sci., 2012, vol. 47, RS1004 p.
6. Francsechetti G.G. Alta Freq, 1967, vol. 36, 757 p.
7. Misra D.K. In: Measurement, Instrumentation, and Sensors Handbook, CRC Press. — IEEE Press, 2000, Ch. 46, pp. 461–46 12.
8. Musil J., Zasek F. Microwave Measurements of Complex Permittivity by Free
Space Methods and Their Application. NY: Elseiver, 1986, 276 p.
9. Brekhovskikh L.М. Volny v sloistykh sredakh, 2d izd. М.: Nauka, 1973, 343 p.
10. Roberts S., von Hippel A.J. Appl. Phys., 1948, vol. 17, 610 p.
11. Nicolson A.M., Ross G.F. IEEE Trans. Instr. Meas, 1970, vol. 19, 377 p.
12. Weir W.R. Proc. IEEE, 1974, vol. 62, 33 p.
13. Lefranqois S., Pasquet D., MazeMerceur G. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1996, vol. 44, No. 9, 1557 p.
14. Wilson S.B. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1988, vol. 36, 752 p.
15. Champlin K.S., Glover G.H. J. Appl. Phys., 1966, vol. 37, 2355 p.
16. Guldbrandsen B. Proc. IEEE, 1986, vol. 74, 68 p.
17. Mason S.J. Proc. IRE, 1953, vol. 41, 1144 p.
18. Williams J. Microw. J., 1991, No. 3, 74 p.
19. Engen G.F., Hoer C.A. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1979, vol. 27, 987 p.
20. Liu L., Matitsine S.M., Gan Y.B., Rozanov K.N. J. Appl. Phys., 2005, vol. 98, Art. No. 063512.
21. Guba V.G., Ladur A.A., Savin A.A. Doklady TUSUR, 2011, No. 2 (24), ch. 1, 149 p.
22. Kruppa W., Sodomsky K.F. IEEE Trans. Microw. Theory Tech., 1971, vol. 19, No. 1, 122 p.
23. Rumiantsev A., Ridler N. IEEE Microw. J. June 2008, 86 p.
24. Heuermann H., Schiek B. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1997, vol. 45, 408 p.
25. Randa J., Wiatr W., Billinger R.L. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1999, vol. 47, 2613 p.
26. WiatrW. Proc.MIKON1998.Krakow,Poland,1998,vol.2,363p.
27. Wiedmann F., Huyart B., Bergeault E., Jallet L.IEEE Trans. Instrum. Meas., 1999, vol. 48, No. 5, 927 p.
28. Zhu N.H., Qian C., Wang Y.L., et al. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 2003, vol. 51, 2000 p.
29. Agilent Network Analysis Applying the 8510 TRL Calibration for Non
Coaxial Measurements. Product Note 8510
8A, Agilent Technologies, 2001, 24 p.
30. Pan C. IEEE Trans. Signal Process, 2001, vol. 49, No. 2, 444p.
31. Rim K.S., Yun, B.I. Adv. Computat. Math., 2013, vol. 38, 683 p.
32. Agilent 85071E Material Measurement Software. Electron Resource] http://cp.literature.agilent.com/ litweb/pdf/5988
9472EN.pdf (Date of appeal 03.09.2020).
33. Borah S., Bhattacharyya N.S. PIER M, 2010, vol. 13, 53 p.
34. Hunton J.K., Pappas N.L. Hewlett Packard J., 1954, vol. 6, 1 p.
35. Starostenko S.N., Vinogradov A.P. IEEE Trans. Instrum. Meas., 2002, vol. 51, 125 p.
36. Zhang J., Koledintseva M.Y., Pommerenke D.J., et al. Proc. 2006 IMTC. Sorrento, Italy, 2006, 462 p.
37. Milton G.W., Eyre D.J., Mantese J.V. Phys. Rev. Lett., 1997, vol. 79, 3062 p.
38. Kuzmenko A.B., van der Marel D., Carbone F., Marsiglio F. New J. Phys., 2007, vol. 9, 229 p.
39. Deng Y., Zhao L., Shen B., et al.J. Appl. Phys., 2006, vol. 100, Art. No. 014304.
40. Li J.G., Huang J.J., Qin Y., Ma F.Mat. Sci. Eng. B., 2007, vol. 138, 199 p.
41. Krupka J.J. Eur. Ceramic Soc., 2003, vol. 23, 2607 p.
42. Krupka J., Gregory A.P., Rochard O.C., et al. J. Eur. Ceramic Soc., 2001, vol. 21, 2673 p.
43. Starostenko S.N., Rozanov K.N. J. Magn. Magn. Mater., 2009, vol. 321, 3049 p.
44. Alanen E., Lahtinen T., Nuutinen J. Phys. Med. Biol., 1999, vol. 44, 169 p.
45. Langhe P.D., Blomme K., Martens L., Zutter D. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1993, vol. 42, 879 p.
46. Wu M., Yao X., Zhang L.Meas. Sci. Technol., 2000, vol. 11, 1617 p.
47. Xu Y., Bosisio R.G. J. Electromagn. Waves Appl., 1992, vol. 16, 1247 p.
48. BelhadjTahar N., FourrierLamer A., de Chanterac H. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1990, vol. 38, 1 p.
49. Kent G. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1996, vol. 45, 102 p.
50. Kent G. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1988, vol. 36, 1451 p.
51. BelhadjTakar N.E., FourierLamer A. J. Electromagn. Waves Appl., 1992, vol. 16, 1225 p.
52. Bottreau A.M., Merzouki A. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1993, vol. 42, 899 p.
53. Janezic M.D., BakerJarvis J. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 1999, vol. 47, 2014 p.
54. Kobayashi Y., Sato J. CPEM’88: 1988 Conf. Precision Electromagn. Meas., Tsukuba, Japan, 1988, Digest., 143 p.
55. Kent G., Bell S.M. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1996, vol. 45, 98 p.
56. Matytsin S.M., Rozanov K.N., Simonov N.A. IEEE, 1996, vol. 2, pp. 987–990.
57. Yamaguchi M., Yabukami S., Arai K.I. IEEE Trans. Magn., 1997, vol. 33, 4044 p.
58. Liu Y., Chen L.F., Tan C.Y., et. al. Rev. Sci. Instr., 2005, vol. 76, Art. No. 063911.
59. Dzhurinskiy K. Elektronnyye komponenty, 2004, No. 9, p. 39.
60. Beguhn S., Zhou Z., Rand S., et al. J. Appl. Phys., 2012, vol. 111, Art. No. 07A503.
61. Takezawa M., Kikuchi H., Ishiyama K., et al. IEEE Trans. Magn., 1997, vol. 33, 3400 p.
62. Vincent D., Rouiller T., Simovsky C., et al. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 2005, vol. 53, 1174 p.
63. Wiener O. Abh. Math. – Physichen Klasse Konigl. Sacsh. Gesel. Wissen., 1912, vol. 32, 509 p.
64. Bekker V., Seemann K., Leiste H. J. Magn. Magn. Mater., 2004, vol. 270, 327 p.
65. Hettstedt F., Schurmann U., Knochel R., Quandt E. Proc. 38th Eur. Microw. Conf. Amsterdam, 2008, 797 p.
66. Moraitakis E., Kompotiatis L., Pissas M., Niarchos D. J. Magn. Magn. Mater., 2000, vol. 222, 168 p.
67. Pain D., Ledieu M., Acher O., et al. J. Appl. Phys., 1999, vol. 85, 5151 p.
68. Shimada Y., Numazawa J., Yoneda Y., Hosono A.IEEE Trans. J. Magn. Japan., 1991, vol. 6, 987 p.
69. Yamaguchi M., Miyazawa Y., Kaminishi K., Arai K.I. Trans. Magn. Soc. Japan., 2003, vol. 3, 137 p.
70. Yamaguchi M., Miyazawa Y., Kaminishi K., et al. J. Magn. Magn. Mater., 2004, vol, 268, 170 p.
71. Djerfaf F., Vincent D., Robert S., Merzouki A. Eur. Phys. J. Appl. Phys., 2011, vol. 56. Art. No. 30601.
72. Wu Y.Q., Tang Z.X., Xu Y.H., et al. IEEE Trans. Magn., 2010, vol. 46, 886 p.
73. Chai G.Z., Yang Y.C., Zhu J.G., et al. Appl. Phys. Lett., 2010, vol. 96, Art. No. 012505.
74. Wang P.S., Zhang H.Q., Divan R., Hoffmann A. IEEE Trans. Magn., 2009, vol. 45, 71 p.
75. Sebastian T., Clavijo S.A., Diaz R.E. J. Appl. Phys., 2013, vol. 113, Art. No. 033906.
76. Yousefi L., Attia H., Ramahi O.M. PIER, 2009, vol. 90, 1 p.
77. Heuermann H., Schiek B. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1997, vol. 45, 408 p.
78. Starostenko S.N., Rozanov K.N. Radiotekhnika i elektronika, 2013, vol. 58, No. 11, 1113 p.
79. Queffelec P., Le Floc’h M., Gelin P. IEEE Trans. Instr. Meas., 1998, vol. 47, 956 p.
80. Ding Y., Klemmer T.J., Crawford T.M. J. Appl. Phys., 2004, vol. 96, 2969 p.
81. Fessant A., Gerialtovski J., Loaec J., et al. J. Magn. Magn. Mater., 1994, vol. 133, 413 p.
82. Fessant A., Gieraltowski J., Loaec J., et al. IEEE Trans. Magn., 1993, vol. 29, 82 p.
83. Pain D., Ledieu M., Acher O., et al. J. Appl. Phys., 1999, vol. 85, 5151 p.
84. Yoshida S., Ono H., Ando S., et al. IEEE Trans Magn., 2001, vol. 37, 2401 p.
85. Acher O., Jacquart P.M., Fontaine J.M., et al. IEEE Trans. Magn., 1994, vol. 30, 4533 p.
86. Acher O., Le Gourrierec P., Perrin G., et al. IEEE Trans. Microw. Theor. Techn., 1996, vol. 44, 674 p.
87. Lagarkov A.N., Kashurkin O. Yu., Maklakov S.А., et al. Radiotekhnika i elektronika, 2012, No. 4, 441 p.
88. Iakubov I.T., Lagarkov A.N., Maklakov S.А., et al. J. Magn. Magn. Mater., 2009, vol. 321, 726 p.
89. Liu Z.W., Liu Y., Yan L., et al. J. Appl. Phys., 2006, vol. 99, Art. No. 043903.
90. Zhang L., Zhu Z.W., Kuang R.X., et al. J. Inorganic Mater., 2010, vol. 25, 1150 p.
91. Afsar M.N., Birch J.R., Clarke R.N. Proc. IEEE, 1986,. vol 74, 183 p.
92. Ghodgaonkar D.K., Varadan V.V., Varadan V.K. IEEE Trans. Instrum. Meas., 1989, vol. 37, 789 p.
93. Liu L., Matitsine S.M., Gan Y.B., Rozanov K.N. J. Appl. Phys., 2005, vol. 98, Art. No. 063512.
94. Lagarkov A.N., Matytsin S.M., Rozanov K.N., Sarychev A.K. J. Appl. Phys., 1998, vol. 84, 3806 p.
95. Hock K.M. IEEE Trans. Microw. Theory Techn., 2006, vol. 54, 648 p.
96. Li J.G., Huang J.J., Qin Y., Ma F. Mat. Sci. Eng. B, 2007, vol. 138, 199 p.
97. Makhnovskiy D.P., Panina L.V., Garcia C., et al. Phys. Rev. B, 2006, vol. 74, Art. No. 064205.
98. Hollinger R.D., Jose K.A., Tellakula A., et al. Microw. Opt. Technol. Lett., 2000, vol. 26, 100 p.
99. Korolev K.A., Chen S., Afsar M.N. IEEE Trans. Magn., 2008, vol. 44, 435 p.
100. Lagarkov A.N., Semenenko V.N., Chistyaev V.A., Iakubov I.T. J. Magn. Magn. Mater., 2012, vol. 324, 3402 p.
101. Zivkovic I., Murk A. J. Appl. Phys., 2012, vol. 111, Art. No. 114104.
Опубликован
2020-09-03
Выпуск
№ 11 (2020): Выпуск № 11
Раздел
Статьи